STZ—3型半导体导电型号甄别仪是为了甄别硅单晶资料的导电类型 “P”和 “N”的丈量仪器，，是选取温差效应和整流效应两种步骤相结合综合性的丈量导电型号仪器，，丈量领域广硅资料电阻率从10-2~104Ω?cm，，仪器选取美国16位单片集成电路推算机为主题，，利用数字采集滤波技术，，并用 “P” “N”数码直接显示。选取了单片机技术可使丈量的正确度和不变性大幅度提高。仪器选取手持式四探然探头，，使用单一，，操作方便，，且寿命长，，适合半导体资料厂、器件厂和科研部门必要。
用作太阳能多晶资料分选时，，选取整流法，，对<0.01Ω-cm的资料拥有声光报警职能，，宽泛利用于太阳能电池出产的原资料筛选环节，，急剧高效。

重要技术指标：

1． 丈量领域：硅单晶资料电阻率10-2~104Ω?cm
2．? 可丈量资料：半导体硅棒和硅片，，及硅碎颗粒。
可测半导体资料尺寸：Φ15~Φ150 mm以上。
3．? 显示方式：P、N 灯显示。
4．? 测试探头：手持式 探针间距3 mm???????? 探针Φ1mm 高速钢
5．? 电源：220V 50HZ 20W

如有非标等特殊要求，，可来电函提出，，可满足！！