这款由银河电子游戏1331研发的硅资料复合测试仪SZT-5，结合了二种硅资料测试仪器的职能，为用户提供了前所未有的测试履历。成为了电子工程师和钻研人员的得力助手。

一、、SZT-5硅资料复合测试仪的概述

SZT-5硅资料复合测试仪，不仅具备二量程的电阻丈量职能，还能够通过手持式四针测试头或座式测试架，轻松丈量片状、、柱状或块状半导体资料的电阻率。

SZT-5还建设了整流法硅资料P-N极性判断仪，可能正确判断硅资料的导电类型。

二、、技术参数

丈量领域：：电阻率丈量领域为0.01-200Ω-cm，方块电阻丈量领域为0.01-200Ω-口，电阻丈量领域为0.01-200.0Ω。

数字电压表：：具备200mV单一量程，误差为读数±0.2%±3字，输入电阻超过10MΩ。

恒流源：：电流输出为0~10mA陆续可调，具备1mA和10mA两个量程，误差为±0.2%±3字。

手持式四探针测试头：：探针间距为1mm，探针机械游移率为±1.0%，探针资料为碳化钨，最大压力为2Kg。

三、、利用领域

SZT-5硅资料复合测试仪普遍用于半导体资料的钻研与出产、、硅资料薄层扩散和导电薄膜的测试，以及其他必要精确丈量电阻率和导电类型的领域。为用户提供了高效、、精确的测试解决规划。

若是您对SZT-5感兴致，欢迎随时征询我们，银河电子游戏1331专业团队将为您提供具体的产品信息和专业的技术支持。?